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EDX8000是一款快速，準確且經濟高效的XRF熒光光譜分析儀，已用于分析各種金屬塑料及電子材料中的鉛（Pb），鎘（Cd），砷（As），汞（Hg），鉻（Cr）和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測下限（通常2ppm）滿足RoHS法規(guī)對于材料中元素限制的含量標準。EDX8000適用范圍廣泛，可應用于金屬/塑料/土壤/玩具/電子電器/汽車等多種行業(yè)檢測。也可檢測粉狀、板狀、線狀等各種規(guī)則與不規(guī)則樣品

EDX8000是一款快速，準確且經濟高效的XRF熒光光譜分析儀，用于分析各種金屬塑料及電子材料中的有毒金屬和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測下限（通常2ppm）滿足RoHS法規(guī)對于材料中元素限制的含量標準。EDX8000適用范圍廣泛，可應用于金屬/塑料/土壤/玩具/電子電器/汽車等多種行業(yè)檢測。也可檢測粉狀、板狀、線狀等各種規(guī)則與不規(guī)則樣品，可在各種工業(yè)生產或商業(yè)環(huán)境下使用。

Compass 200能量色散X射線熒光（EDXRF）光譜儀實現了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等，能夠實時現場對廠區(qū)、礦區(qū)、重工業(yè)區(qū)周邊的環(huán)境進行監(jiān)測，從而進行控制排放和污染治理。操作人員可以直接用Compass 200來分析現場的土壤樣品，在短時間內就可以取得和實驗室同樣的分析效果。

作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現更高精度的過程和質量控制。主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析。

作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現更高精度的過程和質量控制。主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析。

材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數，其選用的材質和鍍層厚度直接影響了零件或產品的耐腐蝕性、導電性、產品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確，快速，無損，操作簡單，測量速度快?？赏瑫r分析多達五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定