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RoHS2.0熒光光譜檢測(cè)儀

簡(jiǎn)要描述:EDX-8000B plus RoHS2.0熒光光譜檢測(cè)儀
能量色散X熒光光譜儀
RoHS環(huán)保指令檢測(cè)儀
主要應(yīng)用于
>RoHS 2.0 / WEEE符合性測(cè)試
>無(wú)鹵檢測(cè)
>玩具EN71及消費(fèi)品的有害物質(zhì)檢測(cè)(Pb、Cd、Hg、Cr 、Br、Cl、As、Sb、Se、Ba等)
>94/62/EC包裝指令

  • 產(chǎn)品廠地:蘇州市
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-10-29
  • 訪  問(wèn)  量:977

詳細(xì)介紹

品牌英飛思行業(yè)專用類型通用
重復(fù)性0.05%能量分辨率165eV
分析含量范圍2ppm-99.999%元素分析范圍Ti-U
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,地礦,電子,綜合

為了滿足客戶日益更為嚴(yán)苛的測(cè)試需求,特別是對(duì)微量痕量元素測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn),英飛思ESI全新開(kāi)發(fā)了升級(jí)版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測(cè)光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測(cè)器,EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測(cè)器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量,更好的光譜分辨率,使得檢測(cè)性能提高了2-3倍。

EDX8000B的優(yōu)勢(shì)

---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量,使得測(cè)量時(shí)間大幅減少。100秒即可達(dá)到普通版本儀器200秒的測(cè)量效果

更準(zhǔn)---多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV(普通Si-pin探測(cè)器為160eV),以更好地分離不同元素的光譜。同時(shí),強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng),并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾,把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測(cè)器(普通Si-pin檢測(cè)器6mm2),該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測(cè)器的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS),從而得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺(tái)式儀器相比,EDX8000B光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測(cè)試表現(xiàn)

>>2-1,2-2可以清晰的看到,同樣測(cè)試條件下,8000B獲得了更好的Cl氯測(cè)試光譜(圖中紫色部分為Cl元素光譜線,右圖Cl峰形更高,信噪比更好,分辨率更優(yōu),最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測(cè)試結(jié)果)



 

如何選擇(EDX8000或者EDX8000B

如果您對(duì)測(cè)試速度有更高的要求,

如果您對(duì)微量元素(小于100ppm)的測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性有更高要求,

EDX8000B無(wú)疑都是好的選擇。

如果您主要關(guān)注性價(jià)比,EDX8000仍然是非常正確的選擇。

 

 

及時(shí)而專業(yè)的售后服務(wù)  

>對(duì)客戶方操作人員進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)

>現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試、驗(yàn)收服務(wù)

>產(chǎn)品終身維修

>免費(fèi)提供軟件升級(jí)

>提供高效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶故障信息后,8小時(shí)內(nèi)響應(yīng),如有需要,48小時(shí)內(nèi)工程師上門(mén)維修和排除故障

 


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