XRF光譜水泥分析儀EDX9000B plus用于測(cè)量水泥中的關(guān)鍵元素并滿(mǎn)足ASTM C114精度要求

水泥生產(chǎn)商必須保持生產(chǎn)流程準(zhǔn)確、高效運(yùn)行，從而確保他們的客戶(hù)獲得適合特定應(yīng)用的優(yōu)質(zhì)材料。X 射線熒光 (XRF) 光譜法最重要的應(yīng)用之一是在生產(chǎn)環(huán)境中分析水泥。毫無(wú)疑問(wèn)，用于評(píng)估用于分析水泥的 XRF 儀器（和其他分析技術(shù)）性能的廣泛使用的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法是 ASTM C-114，水硬性水泥化學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法。

我們進(jìn)行了一項(xiàng)研究，以確認(rèn)水泥分析儀EDX9000B plus 儀器可以滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)ASTM C-114對(duì)水泥分析的要求，同時(shí)在不犧牲性能的情況下縮短分析時(shí)間。

儀器測(cè)量參數(shù)設(shè)定

所測(cè)試的水泥分析儀EDX9000B plus新型XRF光譜儀配備有最大功率為50瓦的具有薄Be窗口的風(fēng)冷Rh靶材管。它配備了超高分辨率的電冷卻硅漂移探測(cè)器(FSDD)。該儀器具有7個(gè)初級(jí)濾光片，可確保始終找到最佳激發(fā)條件。使用兩種激發(fā)條件來(lái)覆蓋表所有目標(biāo)分析物：一種條件在6kV下不帶過(guò)濾光片以激發(fā)從鈉到硫的所有輕元素，另一種在30kV下使用薄Mo過(guò)濾光片來(lái)激發(fā)所有剩余目標(biāo)分析物。我們使用了300秒的總生存時(shí)間來(lái)完成一個(gè)樣品分析。所有測(cè)量均在真空條件下進(jìn)行。

樣品制備方法為為粉末壓片技術(shù)

所有樣品經(jīng)粗磨后還必須進(jìn)一步細(xì)磨，在30MPa壓力下加壓成型，以減小顆粒效應(yīng)、礦物效應(yīng)、元素間吸收-增強(qiáng)效應(yīng)。

?細(xì)磨

白生料：稱(chēng)量30g樣品（精確到0.05g），0.2g硬脂酸（精確到0.0001g）（助磨劑，以防止細(xì)磨過(guò)程中結(jié)塊，提高研磨效率），放入振動(dòng)磨中，細(xì)磨2分鐘。

熟料：稱(chēng)量30g樣品（精確到0.05g），放入振動(dòng)磨中，往磨中加10滴乙醇，細(xì)磨2分鐘。

石膏、鐵粉：稱(chēng)量30g樣品（精確到0.05g），1g硬脂酸（精確到0.0001g），放入振動(dòng)磨中，細(xì)磨3分鐘。

砂巖、頁(yè)巖、粉煤灰：稱(chēng)量20g樣品（精確到0.05g），2g硬脂酸（精確到0.0001g），放入振動(dòng)磨中，細(xì)磨1分鐘。

上述細(xì)磨時(shí)間僅供參考。用戶(hù)應(yīng)該根據(jù)本廠振動(dòng)磨的研磨效率，通過(guò)實(shí)驗(yàn)來(lái)確定最佳研磨時(shí)間。一般可用一參考樣品，不斷增加對(duì)它的研磨時(shí)間，同時(shí)測(cè)量其特征X射線強(qiáng)度，直至測(cè)得的強(qiáng)度不再升高（或降低）趨于恒值為止。注意：在細(xì)磨每個(gè)樣品前，必須將振動(dòng)磨的料缽清洗干凈。細(xì)磨后的樣品，放入小磨口瓶中保存，貼上標(biāo)簽，注明樣品編號(hào)、日期。

可分析水泥含量范圍如下圖

水泥分析儀EDX9000Bplus 水泥基體檢出限

Na2O--0.018%

MgO --0.011%

Al2O3 -- 0.006%

SiO2   --0.003%

P2O5 -- 0.002%

SO3   --0.001%

K2O -- 0.005%

CaO   --0.003%

TiO2 -- 0.003%

Mn2O3   --0.001%

Fe2O3 -- 0.001%

ZnO   --0.00%

堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)，使得水泥分析儀EDX9000B plus可24小時(shí)全天候在水泥廠現(xiàn)場(chǎng)使用?？焖俜治鲈牧?、中間產(chǎn)品（即熟料）和成品水泥。交付，預(yù)先標(biāo)定的工廠程序使得用戶(hù)快速分析水泥和礦物成分，測(cè)量水泥中的所有關(guān)鍵元素，滿(mǎn)足ASTM C114（水硬性水泥XRF分析）精度要求